GTL4060大面積探測平臺

GTL-4060 信號完整性探針台 提供了一個更大的測試平臺,以容納中到大尺寸的測試板、插座、連接器 和器件封裝上的單面測量
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产品概述


GTL-4060 信號完整性大面積探測平臺

領先於半導體業界信號完整性探針台設備供應商
   
GTL4060在設計上與GTL4040相似,但提供了一個更大的測試平臺,以容納中到大尺寸的測試板,


 
但仍提供在較小的板、插座、連接器和子元件上工作的能力,和器件封裝上的單面測量。
GTL4060可搭配兩種顯微鏡配置選項中的一種,分別為;【橋梁式顯微鏡架設】或【自由移動臂樣式】。
請參考右方圖片。歡迎來電/來函諮詢 +886-3-5799029 /info@se-group.com
GTL4060 設備特徵:
■18英吋X24英寸吋平臺 ■整體平臺移動行徑:4英吋(X),3英吋(Y)、2英吋(Z)
■可容納多達8座GTL探針座 ■可調整鹵素環照明系統强弱度
■滑動壓板具有獨特的鎖定功能 ■帶立體變焦光學和相機圖像埠的全三目顯微鏡
■真空校準基板支架 ■可選擇的多埠真空分配歧管
■校準基板 ■可選高解析度彩色視頻系統,LCD顯示幕,帶多輸入視頻選擇器
■精密型低噪音真空泵 ■基礎真空的PCB夾具套件
   


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